IR Drop を FT でスクリーニングする事はできない

IR Drop は PVT条件(Process, Voltage, Temparature)に依存するため、それを全て振ってテストする事は、SOC製造フローの考え方から外れます。

そのため、IR Drop は設計で保障するスペックになります。
2014-03-10 : Work-Product-MAC/DFT/Layout : コメント : 0 : トラックバック : 0
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